随着现代社会的飞速发展,我们对电子设备的依赖与日俱增.现代电脑越来越多的采用低功率逻辑芯片,由于MOS的电介质击穿和双极反向结电流的限制,使这些逻辑芯片对ESD非常敏感。大多数USB集成电路都是以CMOS工艺为基础来设计和制造的,这导致它们对ESD造成的损害也很敏感,另外,USB端口是热插拔系统,极易受到由用户或空气放电造成的ESD影响。用户在插拔任何USB外设时都可能产生ESD。在距离导电面的几英寸的位置可产生空气放电。静电可以损害USB接口,造成USB集成电路故障,最糟糕的是会在电子系统中产生数据位重影。这些损害和故障造成电子